分析元素：
金(Au)，银(Ag)，铂(Pt)，钯(Pd),铜(Cu)，铑(Rh)，钌(Ru)，锌(Zn)，镍(Ni)，镉(Cd)，根据元素能量表可观察以上出各元素的图谱

技术指标

分析范围： 1%～99.99%
测量时间： 自适应
测量精度： ±0.1%
X射线源：Mo靶的X射线光管
摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高
集成工业计算机，无需外接电脑；带门锁电锁，使日常管理更便捷；
探测器：固定式半导体封气正比计 数器
高压器：4～50Kv
分析：多通道模拟
软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
镀层测量：镀层厚度范围<30um
温度：15～30℃
电压：100～127V或220～240V,50/60Hz
最大功率：120W
重量：48公斤
尺寸：500*500*400mm
操作系统： Windows2000/Me/XP